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VK-X3000基恩士KEYENCE 形狀測(cè)量激光顯微系統(tǒng)
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KEYENCE 基恩士 形狀測(cè)量激光顯微系統(tǒng)全新 VK-X3000
超越激光顯微鏡的限制,以三重掃描方式應(yīng)對(duì)
一臺(tái)即可測(cè)量納米 / 微米 / 毫米
三重掃描方式
一臺(tái)設(shè)備可使用激光共聚焦、聚焦變化、白光干涉等三種不同的掃描原理。根據(jù)樣品工件的材料、形狀和測(cè)量范圍選擇適合的掃描方式,進(jìn)行高精度測(cè)量。
一臺(tái)即可了解希望獲取的信息
292 種分析工具
測(cè)量軟件不僅可以測(cè)量高度或尺寸,還能通過多樣的分析工具按照用戶的想法實(shí)現(xiàn)進(jìn)一步的分析。
激光顯微系統(tǒng)的基本特點(diǎn)
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