亚洲国产第6页在线电影_黄色日韩资源在线观看免费_天堂AV成年AV影视麻豆_水蜜桃视频在线_亚洲天堂视频网站_国AV级一级理论片_七七九九久久桃花综合影院_超清无码波多野吉衣中文_日韩无码一区精品国产中文字幕_91午夜激情一区

首頁
關(guān)于我們

公司簡介資質(zhì)證書
產(chǎn)品中心

光刻機/微納加工
中科光電紫外光刻機 Heidelberg德激光光刻機 Elionix日電子束光刻機 OAI美紫外光刻機 ParcanNano德國針尖電子束光刻機 Raith 德電子束光刻機 EVG奧地利紫外光刻機/鍵合機/納米壓印機英國 AML 鍵合機 Optosystems準分子激光器
鍍膜沉積系統(tǒng)
iplas德微波等離子化學氣相沉積 Sentech德原子層沉積機 TSST荷蘭脈沖激光沉積 SYSKEY 臺灣鍍膜沉積德Eberl MBE分子束外延系統(tǒng)Picosun芬蘭原子層沉積機 Oxford 化學氣相沉積/電子束蒸發(fā)HHV英科研用真空鍍膜機 Denton英磁控濺射及電子束蒸發(fā)薄膜沉積
離子刻蝕與沉積設備
Sentech德等離子刻蝕與沉積機 Ulvac日本愛發(fā)科磁控濺射 Nano-master美離子束刻蝕機 Oxford英離子刻蝕/沉積/去膠機
半導體二手設備及配件
光刻機鍍膜機刻蝕機
勻膠/涂覆/顯影機
Laurell美勻膠旋涂儀 SCS美旋轉(zhuǎn)涂覆儀 Sawatec瑞士勻膠機/熱板機/顯影機/噴膠機
晶圓清洗設備
Nano-master&sonix晶圓清洗/檢查 ATI 晶圓檢查機
半導體微納檢測儀器
Rion 日本理音微粒子計數(shù)器 IAS日雜質(zhì)分析化學品檢測分析系統(tǒng)IPI 德水汽分析儀德ThetaMetrisis膜厚測量儀 Zeiss 德掃描電鏡及電子束直寫儀 Sentech德橢偏儀膜厚儀 Bruker德光譜儀/顯微鏡/光學輪廓儀/臺階儀 Rigaku日 X射線衍射儀 Ecopia/MMR霍爾效應測試儀
實驗檢測分析儀器
電子元器件水汽分析儀 Netzsch熱膨脹儀/差示掃描量熱儀/同步熱分析儀 Oxford智能核磁共振波譜儀 Shimadzu島津分光光度計 Newport & OAI 光功率計 Kruss接觸角測量儀 Thermofisher 色譜/質(zhì)譜/光譜儀 HDKY-FJ氟油檢漏儀 Adlema 檢漏機
半導體輔助設備
Finetech倒裝焊接機高溫退火爐焊線機（鍵合機）邦定機 N-TEC 臺灣正恩晶圓貼片/貼膜/UV解膠機氫氣發(fā)生器 Royce美拉力性能測試儀及芯片拾取系統(tǒng)
半導體芯片/電子材料
氮化鎵芯片硅片/氮化鎵晶片光刻膠
新聞資訊

企業(yè)資訊行業(yè)資訊
客戶服務
技術(shù)支持
在線留言
聯(lián)系我們

中文

技術(shù)支持

技術(shù)支持

聯(lián)系我們

地址：深圳市寶安區(qū)福海街道展城社區(qū)展景路83號會展灣中港廣場6棟B座902
電話：0755-29698758, 81776600,81779891
廖總：13538131258,15323788857 QQ:583129932
網(wǎng)站：www.izoqcqho.com.cn
郵箱：johny.liao@lxyee.net

技術(shù)支持

德國Sentech 光譜反射膜厚儀 RM 2000

2025-01-08 16:58:26

RM 2000 光譜反射膜厚儀

光譜臺式反射儀 RM 2000 是用于在寬光譜范圍內(nèi)表征薄膜和大塊材料的光學反射測量儀器。紫外-可見光光學反射儀 RM 2000 提供垂直入射角的反射率譜，并通過 FTPadv Expert 軟件、按照樣品參數(shù)例如膜厚、吸收、組分、帶隙、顏色、光譜帶寬等進行分析。

主要應用是對透明和吸收襯底上的透明膜、半透明膜的快速、簡便的膜厚測量。覆蓋了從 2 納米到100 微米的膜厚范圍，借助大容量、可擴展的材料數(shù)據(jù)庫、儀器適用于多種材料體系。

RM 2000 測量反射率的原理是基于測量反射光強度、并與參比樣片的反射光強度進行對比。參比樣片是儀器交付的一部分。

快速運算法則確保實現(xiàn)光學測量、以及高重復率地計算膜厚。AutoModeling（自動建模）功能可通過快速比較譜線數(shù)據(jù)庫、確定樣品類型。

紫外-可見光反射儀 RM 2000 包括臺式顯微鏡單元、帶樣片臺和用于照明、較小樣片光斑、以及探測反射光的光學設置，還包括樣片準直功能、包括自動準直透鏡 ACT 和顯微鏡物鏡、用于準確控制樣片的高度和傾斜度位置。電子機箱包括內(nèi)置的微控制器和光譜儀。電子機箱可通過以太網(wǎng) LAN、與任何運行 MS Windows 操作系統(tǒng)的新型電腦連接。

紫外-可見光反射儀 RM 2000 可選配計算機控制 XY 掃描平臺、進行樣片特性的掃描。掃描測量軟件可定義任意的測量圖案、用 2 維或 3 維圖顯示結(jié)果、并實現(xiàn)對樣品的統(tǒng)計。

用戶軟件易于操作、并清晰地呈現(xiàn)測量結(jié)果。軟件支持單層膜膜厚測量、也支持對復合多層膜的分析。軟件提供預置的、用戶定義的應用程序。

Technical Specifications 技術(shù)指標

[返回]

上一篇：硅片金屬雜質(zhì)分析系統(tǒng) Expert

下一篇：日本RION高粘度液體光學顆粒度儀 XP-65

關(guān)于我們

聯(lián)系我們

首頁

<strike id="w8kkg"><dd id="w8kkg"></dd></strike><abbr id="w8kkg"></abbr>