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IB-09060CIS 低溫冷凍離子切片儀
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IB-09060CIS™ 低溫冷凍離子切片儀
易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。冷卻保持時(shí)間長，有效地抑制了熱損傷。
· 產(chǎn)品規(guī)格
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IB-09060CIS |
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離子加速電壓 |
1 ～ 8kV |
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傾斜角 |
最大±6º(0.1º/步) |
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離子束直徑 |
500μm(FWHM) |
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研磨速率 |
5μm/min(加速電壓:8kV、Si換算) |
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使用氣體 |
氬氣 |
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最大樣品尺寸 |
2.8mm(長度)×1.0 mm(寬度)×0.1mm(厚度) |
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樣品冷卻 |
樣品架冷卻溫度 |
-120℃ |
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冷卻到達(dá)時(shí)間 |
1小時(shí) |
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冷卻保持時(shí)間 |
8小時(shí) |
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樣品取出時(shí)間 |
30分鐘 |
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壓力測試 |
潘寧規(guī) |
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主抽真空系統(tǒng) |
渦輪分子泵 |
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CCD相機(jī) |
內(nèi)置 |
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尺寸 重量 |
主機(jī) |
500mm(W)×600mm(D)×542mm(H)、70kg |
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機(jī)械泵 |
150mm(W)×427mm(D)×230.5mm(H)、16kg |
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液晶顯示器 |
326mm(W)×173mm(D)×380mm(H)、3.7kg |
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· 安裝條件
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IB-09060CIS |
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電源 |
單相100 ～ 120V±10%、50/60Hz、0.5 ～ 0.6kVA |
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接地線 |
獨(dú)立地線(100Ω以下) |
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氬氣 |
使用壓力: 0.15±0.05MPa(1.0 ～ 2.0kg/cm²) |
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室溫 |
20 ～ 25℃ |
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濕度 |
60% 以下 |
· *產(chǎn)品外觀及技術(shù)規(guī)格可能未經(jīng)預(yù)告而有所變更。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
· 帶有樣品冷卻系統(tǒng)，對容易受熱損傷的樣品也可以進(jìn)行截面制備的離子切片儀。
· ①通過液氮制冷，減輕了離子照射時(shí)對樣品造成的熱損傷。
· ②可以用于制備TEM的薄膜樣品和SEM的截面樣品*
· ③冷卻保持時(shí)間長，大大減少了熱損傷。
· ④在裝有液氮的情況下，也可以交換樣品。
· *最大樣品尺寸:2.8mm(長度)×1.0 mm(寬度)×0.1mm(厚度)。
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