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EM TXP德國Leica全新精研一體機(jī)
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德國Leica EM TXP全新精研一體機(jī)
全新的精研一體機(jī)LEICA EM TXP
是一款獨(dú)特的可對目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行精確定位的表面處理工具，特別適合于SEM，TEM及LM觀察之前對樣品進(jìn)行切割、拋光等系列處理。它尤其適合于制備高難度樣品，如需要對目標(biāo)精細(xì)定位或需對肉眼難以觀察的微小目標(biāo)進(jìn)行定點(diǎn)處理。有了 Leica EM TXP，這些工作就可輕松完成。在 Leica EM TXP 之前，針對目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行定點(diǎn)切割，研磨或拋光等通常是一項(xiàng)耗時(shí)耗力，很困難的工作，因?yàn)槟繕?biāo)區(qū)域極易丟失或者由于目標(biāo)尺寸太小而難以處理。使用 Leica
EM TXP ，此類樣品都可被輕易處理完成。另外，借助其多功能的特點(diǎn)，Leica EM TXP 也是一款可為離子束研磨技術(shù)和超薄切片技術(shù)服務(wù)的極高效的前制樣工具。
與觀察體系合為一體
在顯微鏡下觀察整個(gè)樣品處理過程和目標(biāo)區(qū)域?qū)悠饭潭ㄔ跇悠窇冶凵?，在樣品處理過程中，通過立體顯微鏡可對樣品進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察，觀察角度0°至60°可調(diào)，或者調(diào)至 -30°，則可通過目鏡標(biāo)尺進(jìn)行距離測量。Leica EMTXP 還帶有明亮的環(huán)形LED光源照明，以便獲得最佳視覺觀察效果。
> 對微小目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行精確定位和樣品制備
>通過立體顯微鏡實(shí)現(xiàn)原位觀察
>多功能化機(jī)械處理
>自動化樣品處理過程控制
>可獲得平如鏡面的拋光效果
>LED 環(huán)形光源亮度可調(diào)，4分割區(qū)段可選
< < < 看清細(xì)節(jié)
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為微尺度制樣而生
對毫米和微米尺度的微小目標(biāo)進(jìn)行定位、切割、研磨、拋光是一項(xiàng)具有挑戰(zhàn)性的工作，主要困難來自：
> 目標(biāo)太小，不容易觀察
> 精確目標(biāo)定位，或?qū)δ繕?biāo)進(jìn)行角度校準(zhǔn)很困難
> 研磨、拋光到指定目標(biāo)位置常需花費(fèi)大量人力和時(shí)間
> 微小目標(biāo)極易丟失
> 樣品尺寸小，難以操作，往往不得不鑲嵌包埋
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一體化顯微觀察及成像系統(tǒng)
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多種方式制備處理樣品，樣品無需轉(zhuǎn)移，只需切換工具
不需要來回轉(zhuǎn)移樣品，只需要簡單地更換處理樣品的工就可完成樣品處理過程，并且樣品處理全過程都可通過顯微鏡進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察。出于安全考慮，工具和樣品所在的工作室?guī)в幸粋€(gè)透明的安全罩，可避免在樣品處理過程中操作者不小心觸碰到運(yùn)轉(zhuǎn)部件，又可防止碎屑飛濺。
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Ernst Leitz 于 1907 年發(fā)表了“與用戶合作，使用戶受益”的聲明，描述了徠卡顯微系統(tǒng)與最終用戶的通力協(xié)作以及不斷創(chuàng)新的驅(qū)動力。我們已經(jīng)開發(fā)了五個(gè)品牌價(jià)值來實(shí)現(xiàn)這一傳統(tǒng)：Pioneering、High-end Quality、Team Spirit、Dedication to Science 和 Continuous Improvement。對我們來說，實(shí)現(xiàn)這些價(jià)值就意味著：Living up to Life。
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