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TFXRD-300/200 X射線衍射儀
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日本理學(xué)X射線衍射儀 TFXRD-300/200
適用于Near-Fab Application的無(wú)損方式XRD·Mapping Tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測(cè)角儀,用于氮化鎵(GaN)質(zhì)量管理,可對(duì)應(yīng)大規(guī)格晶圓的X射線衍射分析(XRD)系統(tǒng)
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