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超聲波掃描顯微鏡:ECHO-VS, ECHO Pro, AutoWafe Pro, ECHO-LS
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美國(guó) SONIX 超聲波掃描顯微鏡:ECHO-VS, ECHO Pro™全自動(dòng)超聲波掃瞄顯微鏡, 晶圓檢測(cè)設(shè)備 AutoWafe Pro, 封裝檢測(cè)設(shè)備ECHO-LS:
SONIX™公司是世界500強(qiáng)丹納赫集團(tuán)(NYSE: DHR)下的全資子公司,是全球超聲波掃描檢測(cè)儀和無損檢測(cè)設(shè)備的領(lǐng) 先制造商。 自1986年成立以來,SONIX™在無損檢測(cè)領(lǐng)域中不斷改革創(chuàng)新,是第 一家基于微機(jī)平臺(tái),提供全數(shù)字化成像方案的公司。 SONIX™ 一直致力于技術(shù)革新,提供給客戶最 領(lǐng)先的聲學(xué)檢測(cè)技術(shù)。
SONIX™ 設(shè)備被廣泛應(yīng)用于各種材料的無損檢測(cè),包括半導(dǎo)體,汽車零件和其他先進(jìn)元件。 擁有獨(dú)立開發(fā)的軟件,硬件和專利技術(shù),這么多年來通過和客戶的不斷合作,實(shí)現(xiàn)了SAM技術(shù)的持續(xù)改進(jìn)。 SONIX™ 努力提供最 準(zhǔn)確的數(shù)據(jù),完美的圖像質(zhì)量,非凡的操作性和設(shè)備的高可靠性,從而為客戶提高效率,節(jié)約成本。
SONIX 軟件優(yōu)勢(shì)
● 可編程掃描,自動(dòng)分析
定制掃描程序,一鍵開始掃描,自動(dòng)完成分析,生成數(shù)據(jù)
● FSF表面跟蹤線
樣品置于不平的情況下,自動(dòng)跟蹤平面,獲取同一層面圖片
● ICEBERG離線分析
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)后,可在個(gè)人電腦上進(jìn)行再次分析
● TAMI斷層顯微成象掃描
無需精 確選擇波形,可任意設(shè)定掃描深度及等分厚度,一次掃描可獲得200張圖片,最 快速完成分析。
SONIX 軟件 - 應(yīng)用于塑封FlipChip和Stacked Die產(chǎn)品的成像功能
SONIXTM 的Flexible TAMITM設(shè)計(jì)
專為需要檢測(cè)由不同層厚和材料組成的多層封裝產(chǎn)品,例如:
● 3-D架構(gòu)
● Stacked Die
● Bonded wafers
● Wafer 級(jí)封裝 (WLP)
● 塑封Flip Chips
SONIX 硬件優(yōu)勢(shì)
● 緊湊、穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
模塊化設(shè)計(jì)使得結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、穩(wěn)定,易于維護(hù)
● 高速、穩(wěn)定的馬達(dá)設(shè)計(jì)
掃描軸采用最 先進(jìn)的線性伺服馬達(dá),提供高 速、穩(wěn)定、無磨損的掃描
● 專利的超聲波探頭/透鏡
提供精 確的缺陷檢驗(yàn),最 小能探測(cè)到僅0.1微米厚度的分層。
● PETT技術(shù)
反射及透射同時(shí)掃描,有效提高元器件分析效率
封裝檢測(cè)設(shè)備
超聲波探頭 - 適合所有 ECHO 系列
晶圓夾具 (與可調(diào)的托盤夾具搭配使用) (NEW !!)
配件編號(hào): 600-5200
使用平臺(tái): ECHO LS, ECHO, ECHO VS
應(yīng)用: 300mm 晶圓
優(yōu)點(diǎn):
• 可以簡(jiǎn)單的與 Sonix 專 利申請(qǐng)中的可調(diào)的托盤夾具搭配使用
• 安全固定 300mm 晶圓, 提供最 佳的成像能力
• 適用于有翹曲的晶圓, 保持晶圓平整
• 適用于現(xiàn)有的 ECHO 機(jī)型平臺(tái)
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