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FR-ES 膜厚測量儀
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德國ThetaMetrisis FR-ES:精簡薄膜厚度測量特性分析系統(tǒng)
FR-ES 是一款輕巧便捷的膜厚測量分析系統(tǒng), 能測量各種厚度范圍的透明和半透明涂層以及薄金屬層.
FR-ES 是 實驗室里 的 理想 配置。FR-ES 可以在各種光譜范圍內(nèi)執(zhí)行反射率和透射率測量。
FR-ES 機型設計在以較小的占地面積提供卓越的涂層表征性能。它廣泛應用于各種不同的測量應用：薄膜厚度、折射率、顏色、透射率、反射率等等。
有下列波長范圍 FR-ES 配置可用:
可風光/近紅外 VIS/NIR (380-1020nm),
紫外可見分光光度計 UV/NIR (200-850nm),
紫外/紅外光譜儀 UV/NIR-EXT (200-1000nm),
紫外/線性近紅外光譜 UV/NIR-HR (190-1100nm)
N1近紅外光譜 NIR-N1 (850-1050nm),
近紅外光譜 NIR (900-1700nm).
D VIS/NIR (380-1700nm)
依照不同樣品形狀尺寸還有各種各樣的配件，例如：
。 濾光片可阻擋某些光譜范圍內(nèi)的光
。 FR-Mic 提供微米級別區(qū)域進行測量
。 手動載物臺, 100x100mm或 200x200mm
。 薄膜/比色皿支架用于吸光度/透射率和化學濃度測量的薄膜/比色皿支架
。 積分球用于漫反射和全反射反射率測量
應用
。 大學 & 研究實驗室
。 半導體
。 聚合物和光刻膠厚度測量
。 化學測量
。 介電材料膜厚度測量
。 生物醫(yī)學
。 硬涂層，陽極氧化， 金屬零件加工
。光學鍍膜
。 非金屬薄膜
還有更多…（請聯(lián)系我們提出您的應用）
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