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尼康主要的光刻機(jī)型號及其關(guān)鍵參數(shù)
尼康(Nikon)是光刻機(jī)領(lǐng)域的重要廠商之一,尤其在DUV(深紫外)光刻機(jī)市場中占據(jù)重要地位。以下是尼康主要的光刻機(jī)型號及其關(guān)鍵參數(shù),涵蓋i-line、KrF和ArF等技術(shù)節(jié)點,以及與EUV(極紫外)相關(guān)的信息。
適用于成熟制程(如IC、MEMS、功率器件等):
NSR-SF150
分辨率:≥0.35 μm
套刻精度:≤10 nm
產(chǎn)能:≥200 wph(300mm晶圓)
應(yīng)用:半導(dǎo)體封裝、LED制造等。
NSR-2205iL1
分辨率:0.4 μm
曝光場尺寸:22×22 mm
適用晶圓:200mm/300mm
適用于中端制程(如180nm~65nm節(jié)點):
NSR-S620D
分辨率:≤0.13 μm(通過分辨率增強技術(shù))
套刻精度:≤5 nm
產(chǎn)能:≥180 wph(300mm晶圓)
特點:支持雙工件臺(Dual Stage)技術(shù)。
NSR-S305F
分辨率:0.11 μm
套刻精度:≤7 nm
適用晶圓:200mm
適用于先進(jìn)制程(65nm~7nm,配合多重曝光):
NSR-S631E
分辨率:≤65 nm(單次曝光)
套刻精度:≤3 nm
產(chǎn)能:≥150 wph
應(yīng)用:CMOS、存儲器等。
NSR-S635E
分辨率:≤38 nm(單次曝光)
套刻精度:≤2.5 nm
產(chǎn)能:≥140 wph
特點:支持液浸技術(shù)(NA≥1.30),用于7nm/10nm節(jié)點(需多重曝光)。
NSR- S636E(最新型號)
分辨率:≤32 nm(單次曝光)
NA值:1.35
套刻精度:≤2 nm
產(chǎn)能:≥160 wph
尼康曾研發(fā)EUV技術(shù),但當(dāng)前市場由ASML主導(dǎo)。尼康的EUV光刻機(jī)未大規(guī)模商用,僅限實驗用途:
NSR-EUVL(原型機(jī))
波長:13.5 nm
分辨率:≤16 nm
光源功率:低(與ASML差距較大)
現(xiàn)狀:已暫停開發(fā),轉(zhuǎn)向High-NA EUV預(yù)研。
NSR-EB1
分辨率:≤10 nm(直接寫入)
應(yīng)用:掩模版制作、納米器件研發(fā)。
型號 |
技術(shù)節(jié)點 |
波長 |
分辨率(單次曝光) |
NA值 |
套刻精度 |
產(chǎn)能(wph) |
NSR-SF150 |
i-line |
365nm |
≥0.35 μm |
0.45 |
≤10 nm |
≥200 |
NSR-S620D |
KrF |
248nm |
≤0.13 μm |
0.68 |
≤5 nm |
≥180 |
NSR-S635E |
ArF Imm. |
193nm |
≤38 nm |
1.30 |
≤2.5 nm |
≥140 |
NSR-S636E |
ArF Imm. |
193nm |
≤32 nm |
1.35 |
≤2 nm |
≥160 |
優(yōu)勢:尼康在成熟制程(i-line/KrF)中性價比高,維護(hù)成本低。
劣勢:在EUV和High-NA領(lǐng)域落后于ASML,ArF浸沒式機(jī)型市場份額較小。
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